无忧基地网友对解析:EYM系统管理芯片良率的必要性的评论

摘要：涉及到全球性供应链管理问题的半导体制造商正面临着一波数据浪潮。代工厂会为他们提供晶圆验收测试(WAT)和分拣(sort)数据，测试服务提供商也会回馈每个产品批次的完整数据记录。 尽管如此，大多数半导体公司还是在用传统的方法进行良率管理，即通过远程操作方式收集数据，并常常通过手工方式，使用繁复的电子数据表格，将数据汇编成每周或每月良率报告。结果导致工程师花在分析数据方面的时间，还远没有花在汇集、整合数据方面的时间多。 不仅如此，业界存在着一些症结性问题，如无法满足产品上市时间表要求、无法维持或进一步降低成本结构、产能和用户满意度下降等。导致这些问题滋生的根本原因，是没有在恰当的时间访问恰当的数据... 察看解析:EYM系统管理芯片良率的必要性全文